Print This   Home   Last Page   Chinese
氧化诱导期分析仪
  氧化诱导期分析仪HYD
仪器特点
1、专为塑料、橡胶行业测量氧化诱导期设计,整机一体化,减少信号损失,减少干扰。
2、样品在仪器上方,操作方便。
3、小型化加热炉,减小热惰性,恒温控制更精确,从室温开始就能保证对样品进行快速升温,快速保温。
4、完善的两路气氛切换系统,可手动或自动切换。
5、用户利用标准试样可进行温度、恒温系数校正,减少误差。 6、USB或串行通讯接口,方便与笔记本电脑连接。
2344氧化诱导期分析仪指标
温度数据   差热数据  
温度范围: 室温~1150℃ 测量范围 :±10μv~±1000μv
温度准确度: ±0.1℃ DTA解析度: 0.01μv
升温速率: 0.1℃/min至80℃/min DTA噪声: < 0.01μv
气路控制: 二路稳压、稳流气氛控制系统,方便气体切换。    
Else Products:
差示扫描量热仪
全新的 Photo-DSC 204 F1 Phoenix® 是耐驰公司针对市场上紫外固化分析要求所提出的解决方案,用于分析光固化的树脂体系,公司针对市场上紫外固化分析要求所提出的解决方案,用于分析光固化的树脂体系,如粘合剂,油漆,涂料,齿科材料等。更多的应用领域则包括研究光照效应对食品,工业油,脂肪与润滑剂的保质期的影响。
全自动微机差热天平
全自动微机差热天平STA-100/200系列
Automatic computer DTA instrument
全自动微机差热仪 DTA-100/200系列
微机差热天平
微机差热天平| HCT-1/2系列
微机教学差热仪
微机教学差热仪 | JCR-1/2系列
微机差热仪
微机差热仪| HCR-1/2系列
微机热重分析天平
微机热重分析天平| HTG-1/2系列
流化床热分析仪
流化床热分析仪
大剂量热天平
大剂量热天平|HTD
 
Copyright: Beijing Scientific Instrument Factory permanent
Copyright 2009-2012 By henven.com All Rights Reserved
"The People's Republic of China telecommunications and information services business license" 京ICP备055553